產(chǎn)品列表 / products
簡(jiǎn)要描述:ZB-HY3000壓縮度測(cè)定儀是測(cè)定紙張環(huán)壓強(qiáng)度(RCT)、瓦楞紙板邊壓強(qiáng)度(ECT)、瓦楞紙板平壓強(qiáng)度(FCT)、瓦楞紙板粘合強(qiáng)度(PAT)、瓦楞原紙平壓強(qiáng)度(CMT)的儀器。是目前國(guó)內(nèi)性?xún)r(jià)比非常高的一款高精度壓縮強(qiáng)度測(cè)試儀器。
產(chǎn)品型號(hào): ZB-HY3000
所屬分類(lèi):壓縮強(qiáng)度測(cè)定儀
更新時(shí)間:2024-10-31
品牌 其他品牌 產(chǎn)地類(lèi)別 國(guó)產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 印刷包裝
ZB-HY3000壓縮度測(cè)定儀
一、產(chǎn)品概述
ZB-HY3000壓縮度測(cè)定儀是測(cè)定紙張環(huán)壓強(qiáng)度(RCT)、瓦楞紙板邊壓強(qiáng)度(ECT)、瓦楞紙板平壓強(qiáng)度(FCT)、瓦楞紙板粘合強(qiáng)度(PAT)、瓦楞原紙平壓強(qiáng)度(CMT)的儀器。是目前國(guó)內(nèi)性?xún)r(jià)比非常高的一款高精度壓縮強(qiáng)度測(cè)試儀器。
該儀器為機(jī)電一體化結(jié)構(gòu),采用現(xiàn)代機(jī)械設(shè)計(jì)理念和微機(jī)處理技術(shù)進(jìn)行精心合理的設(shè)計(jì)。儀器采用上壓板固定式,測(cè)量精度高。具有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理功能,可直接得出各項(xiàng)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)結(jié)果,并且能自動(dòng)復(fù)位,操作方便,容易調(diào)節(jié),性能穩(wěn)定。
儀器配備相應(yīng)輔具可進(jìn)行以下試驗(yàn)(可選):
——配備環(huán)壓試驗(yàn)中心盤(pán)和環(huán)壓取樣器,進(jìn)行紙板環(huán)壓強(qiáng)度試驗(yàn)(RCT)
——配備邊壓(粘合)試樣取樣器和輔助導(dǎo)塊,進(jìn)行瓦楞紙板邊壓強(qiáng)度試驗(yàn)(ECT)
——配備平壓試樣取樣器,進(jìn)行瓦楞紙板平壓強(qiáng)度試驗(yàn)(FCT)
——配備剝離強(qiáng)度試驗(yàn)架,進(jìn)行瓦楞紙板粘合(剝離)強(qiáng)度試驗(yàn)(PAT)
——配備槽紋儀和輔助器具,進(jìn)行瓦楞原紙平壓強(qiáng)度(CMT)
二、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
ISO 12192《紙和紙板----壓縮強(qiáng)度-----環(huán)壓法》
ISO 3070《瓦楞紙板-----邊緣耐壓強(qiáng)度的測(cè)定》
ISO 7263《瓦楞芯紙----實(shí)驗(yàn)室起楞后平壓強(qiáng)度的測(cè)定》
ISO 3035《單面和單瓦楞紙板 平壓強(qiáng)度的測(cè)定》
GB/T 2679.8《紙和紙板環(huán)壓強(qiáng)度的測(cè)定》
GB/T 6546《瓦楞紙板邊壓強(qiáng)度的測(cè)定》
GB/T 6548《瓦楞紙板粘合強(qiáng)度的測(cè)定》
GB/T 2679.6《瓦楞原紙平壓強(qiáng)度的測(cè)定》
GB/T22874《單面和單瓦楞紙板 平壓強(qiáng)度的測(cè)定》
三、主要性能參數(shù)
儀器功能主機(jī),用戶(hù)可根據(jù)實(shí)際情況單獨(dú)訂購(gòu)相應(yīng)的附件,實(shí)現(xiàn)原紙和瓦楞紙板多種強(qiáng)度試驗(yàn);
具有測(cè)試數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)處理功能,可打印輸出。
機(jī)電一體化設(shè)計(jì),結(jié)構(gòu)緊湊,外觀美觀大方,維修方便
大屏幕彩色觸摸屏,易于操作
四、主要技術(shù)參數(shù)
參數(shù)項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
電源 | AC220V±10% 50HZ |
測(cè)量范圍(N) | 50~3000 |
分辨力(N) | 1 |
示值準(zhǔn)確度 | 示值誤差±1%,示值變動(dòng)性≤1% |
試驗(yàn)速度(mm/min) | 12.5±2.5 |
上下壓板平行度(mm) | <0.05 |
上下壓板zui大距離(mm) | 78 |
儀器尺寸(長(zhǎng)*寬*高)mm | 450*400*500 |
凈重kg | 75 |
注:測(cè)試數(shù)據(jù)在100N以下(含100N)時(shí),示值準(zhǔn)確度允許超出上表規(guī)定范圍